软包材料膜厚检测的主要目的是确保薄膜的厚度均匀性。以及各功能层的厚度满足要求，‌提高产品品质和市场竞争力；

   

软包材料的厚度均匀性对其性能和使用至关重要。‌如果薄膜的整体厚度均匀性差，‌那么其中各层树脂的厚度分布也会存在差异。‌因此，‌对涂层厚度的检测将更有利于有效控制薄膜各层的厚度均匀性。‌对于多层薄膜，‌若想测量每一功能性涂层的厚度，阻隔性能优的材料其阻隔层多为铝箔、镀铝、镀硅氧化物、PVDC、EVOH等。

这些类似材料的的检测一般用NK-800‌软包膜厚检测仪进行检测；该检测仪是一种光学成像法的检测，通过对膜的界面的光学成像，可以精确测量多层膜的厚度，测量精度高，效率高，直观。

 
     操作步凑：
①、专用工具快速切割适当尺寸的软包膜，直接放置显微镜工作台检测；
②、取稍许试样，装夹定位后，放置镶嵌模中，镶嵌固化，
③、镶嵌模种取出镶嵌固化好的试样，
④、自动磨抛机自动进行预磨、抛光，或者手持试样在手动抛光机上预磨抛光，
⑤、特殊试验可以制作超薄镶嵌试样，高度＜5mm，
⑥、试样处理过程中注意保护，避免处理工艺对材料产生损伤，

 

①、光学显微镜采用LED照明，反射透射可以同时使用，也可以独立使用；
②、采用高景深，长工作距离物镜，100X干镜，使用可靠，分辨率高，
③、光学放大倍率：25X-2000X；
④、采用高速USB3.0高像素1200万像素摄像系统，
⑤、独立知识产权，软件著作权等，

⑥、自动、半自动进行膜厚检测，并实现图文报告的自动输出。

具体详情请咨询：0512-85187300      13338661199